Referenzdetails

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Referenz
EN 60749-3:2017
Offizieller Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Organisation
CENELEC
Verlegerstatus in der Quelle
VeröffentlichtDies ist der Status, der in der Quelle aufgezeichnet ist, nicht eine Aussage, dass dies die neueste Ausgabe ist.
Quellenzugriff
19 Oktober 2026

Forschung und Antrag

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