Dettagli di riferimento
- Riferimento
- EN 15991:2011
- Titolo ufficiale
- Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV)
- Organizzazione
- CEN
- Stato di editore nella fonte
- RitiratoQuesto è lo stato registrato nella fonte, non una dichiarazione che si tratta dell'ultima edizione.
- Accesso alla fonte
- 19 ottobre 2026
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