Referentiedetails
- Referentie
- EN 62374-1:2010
- Officiële titel
- Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
- Organisatie
- CENELEC
- Uitgeverstatus in bron
- GepubliceerdDit is de status die in de bron is opgenomen, niet een verklaring dat dit de laatste editie is.
- Toegang tot de bron
- 19 oktober 2026
Onderzoek en aanvraag
Begin met het officiële toepassingsgebied en de productconfiguratie. De titel identificeert een onderwerp; het stelt niet elke product, gebruiksvoorwaarde of wettelijke vereiste vast die door de publicatie wordt gedekt.
Onderzoeksroutes voor producten
- Metalen, lassen en oppervlaktebehandeling
Materiaalgraad, lasproces en oppervlakteconditie als verbonden elementen van technische prestaties.
Vragen voor het bewijsbestand
- Materiaalcertificaten
- Proceskwalificatie
- Inspectieregisters
- Oppervlakte-voorbereidings- en blootstellingsomstandigheden
Noteer de exacte editie en de bijbehorende amendementen, het beoordeelde object, het onderzochte bewijs en de grenzen van de conclusie. Verken IESQ onderzoek voor gedetailleerde product- en standaardstudies.
Wettelijke citatie
Er is geen Commissie-citatierecord aan deze referentie in de IESQ-index gekoppeld. Dat is een indexresultaat, niet een conclusie dat de standaard niet is geciteerd. Raadpleeg de relevante Commissielijst en de handelingen van het Publicatieblad.
Blader door wetgevingsreferentielijsten →