Referentiedetails
- Referentie
- EN 62047-13:2012
- Officiële titel
- Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures
- Organisatie
- CENELEC
- Uitgeverstatus in bron
- GepubliceerdDit is de status die in de bron is opgenomen, niet een verklaring dat dit de laatste editie is.
- Toegang tot de bron
- 19 oktober 2026
Onderzoek en aanvraag
Begin met het officiële toepassingsgebied en de productconfiguratie. De titel identificeert een onderwerp; het stelt niet elke product, gebruiksvoorwaarde of wettelijke vereiste vast die door de publicatie wordt gedekt.
Onderzoeksroutes voor producten
- Meet-, test- en laboratoriumapparatuur
Metingsfunctie, nauwkeurigheidsclaims, elektrische veiligheid en de condities waaronder resultaten vergelijkbaar zijn.
- Chemische stoffen, plastics en rubber
Stofidentiteit, materiaaleigenschappen, bemonstering en analytische methoden voor chemische en polymerenproducten.
Vragen voor het bewijsbestand
- Metingsmodel
- Onzekerheidsbegroting
- Kalibratie-naspeurbaarheid
- Milieu- en monsteromstandigheden
- Stof- en samenstellingidentiteit
- Monstervoorbereiding
Noteer de exacte editie en de bijbehorende amendementen, het beoordeelde object, het onderzochte bewijs en de grenzen van de conclusie. Verken IESQ onderzoek voor gedetailleerde product- en standaardstudies.
Wettelijke citatie
Er is geen Commissie-citatierecord aan deze referentie in de IESQ-index gekoppeld. Dat is een indexresultaat, niet een conclusie dat de standaard niet is geciteerd. Raadpleeg de relevante Commissielijst en de handelingen van het Publicatieblad.
Blader door wetgevingsreferentielijsten →