Detalles de la referencia

Referencia
EN IEC 60749-20-1:2026
Título oficial
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
Organización
CENELEC
Estado de publicador en la fuente
PublicadoEste es el estado registrado en la fuente, no una declaración de que esta es la última edición.
Acceso a la fuente
19 de octubre de 2026

Investigación y solicitud

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Rutas de investigación de productos

Preguntas para el archivo de evidencia

  • Base de configuración e instalación
  • Calificación ambiental
  • Rastreabilidad de materiales y procesos
  • Alcance de aprobación

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